skip to content

微分迁移率分析仪

    适用于粒径分析的微分迁移率分析仪

    TSI 的多元 Scanning Mobility Particle Sizer™ 光谱仪 (SMPS),如 3936 型,使用微分迁移率分析检测 2 纳米至 1 微米粒径范围粒子的粒径分布和浓度。此方法基于粒子穿越电场(电迁移)的能力与粒径存在本质关联的物理原理,因此粒径校准必不可少(检测第一原则)。在微分迁移率分析仪 (DMA) 中,形成一个电场,空气悬浮颗粒根据其电迁移性能在 DMA 中漂移。然后根据迁移分布计算粒径。此法独立于粒子电动电势。

    两种 DMA 选择提供灵活性

    TSI 提供两种微分迁移率分析仪 (DMA) 选择,包括 长 DMA 和 纳米 DMA,两种分析仪都由 TSI 精心定制,以确保优异性能。TSI 的 DMA 立柱能够单独购买并在同一平台上进行互换,提供前所未有的多功能性。事实上,独特的 DMA 组件提供的灵活性能够使用户选择最适合其粒径分析要求的系统。TSI 的两种型号包括:

    长微分迁移率分析仪 (LDMA) 3081 型 

    • 四十多年来深受气溶胶研究人员之信赖
    • 在众多同行评审的出版物中被提及
    • 以精确、可重复和可比较的检测结果而深受气溶胶科研专家赞誉

    纳米微分迁移率分析仪 (NDMA) 3085 型 

    • 与大学科研人员合作设计,大大提高了 3-150nm5 粒径范围的粒径分辨率
    • 提高的纳米粒子传输效率

     

     

     

     

    需要帮助您找到产品吗?

    1. 1 你会在哪里尝试测量?
    2. 2 您的应用领域是什么?
    3. 3 你需要测量什么呢?
    If you are seeing this, then the pnlEUCookieScripts is working