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微分迁移率分析仪

    • 差分电迁移率分析仪 3081
      差分迁移率分析仪 3081 差分迁移率分析仪 3081是两种 DMA 之一,设计与TSI系列3080静电分级器配套使用。
    • 差分电迁移率分析仪3085
      3085 是两种差分迁移率分析仪 (DMA) 之一,设计与 TSI 3080 系列静电分级器配套使用。
    • 静电分级器3082
      生成颗粒粒径范围:2nm- 1000 nm
    • 差分电迁移率分析仪3081A
      One of two DMAs designed for use with TSI Series 3082 Electrostatic Classifiers and particle sizers.
    • 差分电迁移率分析仪 3081
      差分迁移率分析仪 3081 差分迁移率分析仪 3081是两种 DMA 之一,设计与TSI系列3080静电分级器配套使用。它的标配是 3080L 静电分级器,可生成 10 至 1000nm 粒径范围的粒子,它是本公司 Scanning Mobility Particle Sizer™ (SMPS) 系统的一个重要组件 。 3080 系列分级器使您能够交换 DMA 柱,从而扩展功能。 如您的静电分级器已经配有一个纳米 DMA,则订购 3081 型长 DMA,以扩展粒径检测功能。 特点和优势 与 3080L 静电分级器配套 SMPS 系统的关键组件 应用范围
    • 差分电迁移率分析仪3085A
      A Nano DMA offers a size range from 2 to 150 nm.
    • 差分电迁移率分析仪3085
      差分迁移率分析仪 3085 差分迁移率分析仪 3085 是两种差分迁移率分析仪 (DMA) 之一,设计与 TSI 3080 系列静电分级器配套使用。它的标配是 3080N 型静电分级器,可生成 2nm 至 150nm 的粒子,它是本公司的 Scanning Mobility Particle Sizer™ (SMPS) 系统的关键组件之一。 3080 系列分级器使您能够交换 DMA 柱,从而扩展功能。如您的静电分级器已经配有一个长 DMA,请订购 3085 型纳米 DMA,以扩展粒径检测功能。 纳米 DMA 与明尼苏达大学粒子技术实验室及杜伊斯堡大学合作开发。请参考美国专利号 6230572。 特点和优势 与
    • 3086型DMA差分静电迁移分析仪
      能够提高1nm到50nm颗粒物的粒径测量的粒径 分辨率。
    适用于粒径分析的微分迁移率分析仪

    TSI 的多元 Scanning Mobility Particle Sizer™ 光谱仪 (SMPS),如 3936 型,使用微分迁移率分析检测 2 纳米至 1 微米粒径范围粒子的粒径分布和浓度。此方法基于粒子穿越电场(电迁移)的能力与粒径存在本质关联的物理原理,因此粒径校准必不可少(检测第一原则)。在微分迁移率分析仪 (DMA) 中,形成一个电场,空气悬浮颗粒根据其电迁移性能在 DMA 中漂移。然后根据迁移分布计算粒径。此法独立于粒子电动电势。

    两种 DMA 选择提供灵活性

    TSI 提供两种微分迁移率分析仪 (DMA) 选择,包括 长 DMA 和 纳米 DMA,两种分析仪都由 TSI 精心定制,以确保优异性能。TSI 的 DMA 立柱能够单独购买并在同一平台上进行互换,提供前所未有的多功能性。事实上,独特的 DMA 组件提供的灵活性能够使用户选择最适合其粒径分析要求的系统。TSI 的两种型号包括:

    长微分迁移率分析仪 (LDMA) 3081 型 

    • 四十多年来深受气溶胶研究人员之信赖
    • 在众多同行评审的出版物中被提及
    • 以精确、可重复和可比较的检测结果而深受气溶胶科研专家赞誉

    纳米微分迁移率分析仪 (NDMA) 3085 型 

    • 与大学科研人员合作设计,大大提高了 3-150nm5 粒径范围的粒径分辨率
    • 提高的纳米粒子传输效率

     

     

     

     

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