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TSI公司将参展第三届中欧大气化学学校


2017-11-10

美国TSI公司将于2017年11月27-30日参加在上海粤海酒店举办的第三届中欧大气化学学校。第三届中欧大气化学学校由复旦大学环境科学与工程系承办,在大气化学过程、全球气候变化等领域探讨学术前沿问题,增进国际学术交流。

TSI公司将展出3321 空气动力学粒径谱仪(APS™) ,提供 0.5 至 20 微米粒径范围粒子的高分辨率、实时空气动力学检测。这些独特的粒径分析仪还检测 0.37 至 20 微米粒径范围粒子的光散射强度。APS 粒径谱仪通过向同一粒子提供成对数据向有兴趣研究气溶胶组成的人士开辟了令人振奋的新途径。

3321 空气动力学粒径谱仪

TSI 的SMPS™ 粒径谱仪被广泛用作测量空气中的颗粒粒径分布的标准。此系统还常用于悬浮在液体中的纳米颗粒粒径的精确测量。美国国家标准与技术研究院(NIST) 使用TSI DMA 筛分直径60 nm 和100 nm 的标准粒径作为参考标准。SMPS 粒径谱仪的粒径测量是一种直接测量粒子数浓度的非连续技术,而无需假定颗粒的形状来得到粒径分布。该方法不依赖于粒子或液体的折射率,并具有绝对的粒径精度和高测量重复性。TSI 具有超过30 年粒径谱仪的历史,3938 型是第三代的扫描电迁移粒径谱仪,是研究人员可以依赖的仪器。

3938

TSI 3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便,能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量。基于TSI公司40年气溶胶仪器设计的经验,本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和精密的电子处理系统,从而得到高质量和高精度的数据。同时,TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的精确性。该产品是广大环境研究机构和环境监测部门进行颗粒物监测分析和源解析的最佳仪器。

TSI 3330

TSI 3910 型NanoScan SMPS 打开纳米颗粒粒径常规测量的大门。这一革命性的粒径谱仪将TSI 公司的SMPS粒径谱仪集成在约一个篮球大小的便携箱内。容易使用,重量轻,电池供电等优点使NanoScan SMPS 让研究人员多点采集纳米颗粒粒径分布数据成为可能。由TSI 核心技术中衍生而来,NanoScan SMPS 是一个创新的,低成本的实时纳米粒径测量的有效解决方案。

NanoScan SMPS

欢迎您届时莅临TSI公司位于上海粤海酒店二层的A1展位!

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