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粒子图像测速仪(PIV)

    粒子图像速度场仪(PIV)

    TSI PIV系统利用激光双脉冲技术通过分析计算示踪粒子在特定时间间隔内位移测量流体速度场。激光片光照亮流场中一个平面,并利用相机记录其中示踪粒子的位置。很短时间(毫秒微秒)后,另一束激光照亮流场中同一个平面,获得了第二张粒子图像。

    通过这组图像,利用独特的PIV和立体PIV算法计算区域内粒子位移,很容易获得平面内几千个位置上的速度矢量。获得整个区域内流场特性如涡量和应变率。也可得到平均速度,湍流强度与高阶统计参数。

    Micro-PIV系统测量微型机电系统和微管道内流场,而高帧率系统提供KHz时间分辨测量。TSI系统使用专利的Hart与Rohaly-Hart相关分析算法 和Micro-PIV技术提供最准确的结果。PIV/PLIF测量流体速度和标量场。

    了解更多关于PIV仪器和相关应用,请参加TSI的流体力学系列研讨会。


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