粒子图像测速仪（PIV）
粒子图像速度场仪系统
TSI PIV 系统通过使用双脉冲激光技术确定精确选定时间内的粒子位移来检测速度。激光片光照射流体平面，并使用数字相机记录平面中粒子位置（自然存在或添加到流体中以获得充足数目的散射体）。短时间（数微秒或数毫秒）后，另一脉冲照射同一平面，形成另一组粒子图像速度场。
根据这些图像集，独特的微粒子图像速度场仪和立体粒子图像速度场仪算法获取成像区的粒子位移，从而快速轻松可靠地提供大量位置的速度信息。整个区域的流动特性得以获得，如涡度和应变率等。平均流速、湍流强度及高阶统计也得以获得。
微粒图像测速仪系统检测 MEMS 和微通道中的整个流场，而高帧速率系统以 kHz 更新速率提供时间分辨率检测。TSI 系统使用 Hart 和 Rohaly-Hart 关联算法和微粒图像测速仪技术提供最精确的检测结果。PIV/PLIF 系统检测速度和标量属性。
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