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3086型DMA差分静电迁移分析仪

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产品详情

该3086型1nm-DMA差分静电迁移分析仪一般和TSI 3082型静电分级器3777型纳米增强仪 以及凝聚粒子计数器 配套使用,且该分析仪工作流程已经被最优化,不但能够将散逸损失降至最低,而且能够提高1nm到50nm颗粒物的粒径测量的粒径 分辨率。

特点和优势

  • 分析从1到50nm粒径的颗粒物
  • SMPS(扫描电迁移粒径谱仪)的关键组件

应用 

  • 颗粒物粒径测量

 


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