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1nm 3938E77型扫描电迁移粒径谱仪

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产品详情

将您的测量带扩展至检测极限。30多年来,TSI的 SMPS™ 粒径谱仪已被广泛作为亚微米级和低纳米级粒径范围内测量气溶胶粒径分布的标准。在和 3777型纳米增强仪3086型差分静电迁移率分析仪 (1nm-DMA)配套使用后,该仪器能够快速、高分辨率地测量粒径和数量浓度,监测工程和自然环境中1nm气溶胶颗粒的反应动力学及新颗粒的形成。

大气研究 - 该设备能够监测新粒子的形成及其动力学、云凝聚,并缩小了质谱仪与传统的粒径分布测量之间的偏差,是在高污染城市中小于3nm 粒子研究、粒子来源及健康影响研究的理想选择。

材料科学 - 该设备能够可靠、实时反馈地监测和表征小于3nm粒子,是基于气溶胶工程纳米粒子合成、纳米粒子功能化、纳米级分析化学、反应动力学的控制和催化剂的合成的理想选择。

特性与优势*

  • 快速、高分辨率的粒径和数量浓度数据
    • 优化最小扩散损失
    • 在1与50nm之间>109通道
    • 通过和3081A型长差分静电迁移率分析仪(DMA)配合使用,该设备测量三个  数量级粒径(1nm~1µm)粒子的能力
  • 最适合于测量需求的定制模块化组件设计,如1nmCPC的独立使用
  • 为了得到可靠、有信誉度的测量数据而设计的系统组件内置诊断和自动检测
  • 易于设置和使用的Aerosol Instrument Manager(AIM) (气溶胶仪器管理软件)
  • 审慎的粒子测量:适用于多模式采样

该1nm SMPS不仅仅是另一种观察从1nm开始成核成长的检测器,而且是一种以无与伦比的分辨率显示存在于这些事件中的粒径分布的成熟粒径谱仪。

模块化的组件让您完全按照您的测量需求定制系统,节省您的时间和金钱。如果您已经拥有一台配置了3772 CPC的3938系列SMPS系统,您仅需增加1nm 差分静电迁移率分析仪(DMA)和纳米增强仪。您的分级器和高级中和器仍然保持不变,同时您将得到 最新版本AIM软件的一次免费升级

其它应用

  • 基础气溶胶研究
  • 研究如火焰合成、激光烧蚀、火花生成成核/冷凝等粒子源的粒子成核和成长,
  • 燃烧和发动机排放研究(有机燃料,低于3nm的排放,天然气发动机,塑料成型和焊接)
  • 过滤研究
  • 吸入或接触室研究
  • 影响健康因素研究

* 具有上述特性和优点的SMPS扫描电迁移粒径谱仪还包含下列仪器:  3082型筛分器1nm-DMA差分静电迁移率分析仪3777型纳米增强仪 , 以及  3772型凝聚核粒子计数器   。


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