3938型扫描电迁移率粒径谱仪
商品编号: 3938L50
在过去30多年来，TSI SMPS扫描电迁移率粒径谱仪帮助研究者取得了气溶胶研究的新突破，并协助校准参考材料和其它气溶胶仪器。美国国家标准技术研究所（NIST）和世界各地的许多其它参考实验室使用TSI SMPS进行亚微米粒径分布测量。第三代3938型SMPS采用模块化、基于组件的设计，不但具有非常高的粒径分辨率，还具有快速扫描（每次扫描小于15秒）和自动组件识别功能。TSI SMPS易于使用，并可以为研究人员提供最高质量数据，是研究人员进行纳米粒子粒径分布测量的最佳选择。