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静电分级器和差分静电迁移分析仪

静电分级器和差分静电迁移分析仪是测量亚微米粒子粒径的首选工具。这两种仪器配合使用通过静电迁移技术来测量粒子粒径。该技术是测量小于1微米的粒子粒径的最合适方法。实际上,ISO 15900指出,在全球范围内,静电迁移技术是亚微米粒子测量的首选方法。

TSI的静电分级机和差分静电迁移分析仪有着悠久的历史,40多年来一直使用电迁移技术来测量粒子粒径。TSI有着数十年制造高性能气溶胶仪器的经验,静电分级机和微分静电迁移分析仪是我们的核心产品。要找到适合您应用的气溶胶粒径谱仪,请进一步浏览本网站,或通过particle@tsi.com与TSI专家沟通

3086型DMA差分静电迁移分析仪

设计用于3082型差分静电迁移分析仪和3777型纳米增强仪。

差分电迁移率分析仪3085A

我们的扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS)™关键组件模型。

差分电迁移率分析仪3085

差分迁移率分析仪(DMA)是亚微米粒径分级系统的组成部分。3085a型是用于TSI 3082型静电分级器的三种DMA之一。也可以说,这款静电分级器是3938型扫描迁移率粒径谱仪(SMPS...

静电分级器3082

我们最新的静电分类器3082继续是帮助科学家产生和尺寸亚微米粒子的解决方案,但具有扩展的功能和易于使用的界面。

差分电迁移率分析仪3081A

我们的 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS)系统的关键组件。

差分电迁移率分析仪 3081

我们的扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS)™关键部件系统 。

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