This website uses cookies
Die Website speichert nun nur noch wichtige Cookies auf Ihrem Computer. Wenn Sie keine Cookies zulassen, können Sie möglicherweise bestimmte Funktionen der Website nicht nutzen, wie zum Beispiel: Anmelden, Produkte kaufen, personalisierte Inhalte ansehen, zwischen den Sprachen der Website wechseln. Es wird empfohlen, dass Sie alle Cookies zulassen.
+49 241 52 30 30 (DE) Alle Standorte

SUCHEN

1nm Scanning Mobility Particle Sizer Spektrometer

Artikelnr: 3938E57

Erweitern Sie Ihre Messungen bis zur Nachweisgrenze mit der 2. Generation des 1nm Partikelgrößenmessgerätes. Seit über 30 Jahren sind die SMPS-Spektrometer von TSI der weit verbreitete Standard zu der Messung von Aerosolgrößenverteilung im Submikrometer- und niedrigem Nanometerbereich. In Verbindung mit dem Nano Enhancer 3757 und dem Differentieller Mobilitätsanalysator 3086 (1nm-DMA) ist jetzt eine hochauflösende und schnelle Messung der Partikelgröße und -konzentration sowie eine Überwachung der Reaktionskinetik und Bildung neuer Partikel bei technisch erzeugten und natürlichen Aerosolpartikeln ab 1 nm Größe möglich.

Produktdetails

Das 1 nm SMPS-System verbindet TSIs historische Stärken bei der Klassierung und Zählung von Partikeln mit einer neuen Technologie, mit der auch Partikel mit einer Größe von nur 1 nm gemessen werden können. Differentieller Mobilitätsanalysator 3086 ist auf eine weitere Verringerung der Diffusionsverluste bei diesen äußerst kleinen Partikeln optimiert. Zwischen dem DMA und einem marktüblichen Partikelzähler angeordnet lässt das Modell 3757 NanoEnhancer die 1 nm große Partikel mit Diethylenglykol anwachsen und ermöglicht so die Detektion durch den Partikelzähler. Das neue Design des Nano Enhancers sorgt für eine noch bessere Integration von Partikelzähler und Nano Enhancer und erleichtert das Einrichten und die Bedienung erheblich.

Gemeinsam ermöglichen diese Komponenten Forschern den Aufbruch in eine ganz neue Dimension. Die wichtigsten Anwendungen sind:

Atmosphärenforschung - Das Monitoring der Partikelbildung und -kinetik oder Wolkenbildung ohne die übliche Lücke zwischen Massenspektrometer und klassischer Messung der Partikelgrößenverteilung. Ideal geeignet für die Untersuchung von Partikelquellen, Gesundheitsfolgen sowie Partikelgrößen kleiner 3 nm in stark belasteten Städten.

Werkstoffkunde - Überwachung und Charakterisierung von Partikelgrößen unter 3 nm mit zuverlässigen Ergebnissen nahezu in Echtzeit. Das System ist ideal geeignet für die Synthese technischer Aerosolpartikel, die Funktionalisierung von Nanopartikeln, die analytische Chemie im Nanobereich, die Steuerung der Reaktionskinetik sowie die Katalysatorsynthese.

Das 1 nm-SMPS ist hierbei nicht einfach nur ein weiterer Detektor zur Erkennung spontaner Nukleation/Keimbildung ab 1 nm. Es ist ein vollständiges Partikelspektrometer, das die Größenverteilungen während dieser Ereignisse mit einzigartiger Auflösung anzeigt.

Die Modularität des Komponentenaufbaus ermöglicht eine optimale Anpassung des Systems an die jeweiligen Messanforderungen und reduziert dadurch den Zeit- und Kostenaufwand. Wenn Sie bereits über ein SMPS-System aus der 3938er Serie und ein Partikelzählermodell 3772 verfügen, sind lediglich der 1nm-DMA und der Nano Enhancer einzubinden. Klassierer und Advanced Neutralizer/Röntgen neutralisator können weiterverwendet werden. Dazu erhalten Sie ein kostenloses Update der AIM-Software.

Anwendungen

  • Grundlagenforschung zu Aerosolen
  • Untersuchungen zur Keimbildung/Nukleation und zum Wachstum von Partikeln aus Partikelquellen wie der Flammensynthese, Laserabtragung, Funkenbildung sowie der Nukleation und Kondensation
  • Forschungen zum Verbrennungsvorgang und Abgasausstoß von Motoren (organische Treibstoffe, Partikelemissionen unter 3 nm, erdgasgetriebene Motoren, Kunststoffguss und -lötung)
  • Filtrationsforschung
  • Inhalations- oder Expositionskammerstudien
  • Untersuchung von Gesundheitsfolgen

*Die angegebenen Leistungs- und Nutzmerkmale gehen von dem folgenden SMPS-Spektrometeraufbau aus: Elektrostatischer Klassierer 30821nm-DMA1nm-Nano Enhancer 3757 und Kondensationspartikelzähler 3750.

Leistungsmerkmale & Vorteile

  • Schnelle, hochauflösende Angaben zu Größen und Partikelkonzentrationen
  • Optimiert für minimale Diffusionsverluste
  • > 109 Kanäle zwischen 1 und 50 nm
  • Möglichkeit der Messung über drei Größendekaden von 1 nm bis 1 µm (in Verbindung mit dem Long DMA 3081A)
  • Modularer Aufbau zur exakten Anpassung an alle Messanforderungen z. B. durch den autonomen Einsatz des 1 nm-Partikelzählers
  • Zuverlässige und belastbare Messdaten durch eingebaute Diagnose und automatische Erkennung von Systemkomponenten
  • Einfaches Setup und Verwendung mit der Aerosol Instrument Manager-Software (AIM)
  • Diskrete Partikelmessung: gute Ergebnisse bei multimodalen Messergebnissen